产品描述
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仪器设备信息 |
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仪器名称 |
中文：原子力显微镜 |
仪器型号 |
Dimension® Icon™ |
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英文：Atomic Force Microsphere |
产地及生产厂家 |
德国/布鲁克 |
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所属单位 |
工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室） |
购置时间 |
2016年 |
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放置地点 |
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号 |
仪器状态 |
正常 |
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设备应用范围/仪器测量范围（公差） |
应用范围：AFM 在物理学中，主要应用于研究半导体和金属的表面重构、表面形貌、表面电子态及动态过程，三维高精度测试，纳米级尺寸，检测样品表面形貌和物理特性，定量粗糙度，机械性能检测，纳米级电气性能，超导体表面结构和电子态层状材料的电荷密度。 主要参数：X-Y方向扫描范围：90µm×90µm典型值，最小85um；Z方向扫描范围：10µm典型值。 |
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是否通过第三方机构定期校准 |
否 |
已获取CNAS认证 |
是 |