产品描述
|
仪器设备信息 |
|||
|
仪器名称 |
中文：透射电子显微镜 |
仪器型号 |
FEI Tecnai G 2 F20、OXFORD 能谱 |
|
英文：Transmission Electron Microscope |
产地及生产厂家 |
荷兰/FEI |
|
|
所属单位 |
工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室） |
购置时间 |
2013年 |
|
放置地点 |
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号 |
仪器状态 |
正常 |
|
设备应用范围/仪器测量范围（公差） |
应用范围：利用吸收衬度，对样品进行形貌像分析； 利用电子衍射图像，对样品进行物相分析，确定样品的物相和晶系；利用HRTEM 高分辨像等确定晶体结构和晶体缺陷；EDX能谱对微区元素成分进行分析。 主要参数：TEM信息分辨率：0.14nm、TEM 放大倍数：50X~1000000X、STEM 分辨率：0.2nm、能谱分辨率：127 eV。 |
||
|
是否通过第三方机构定期校准 |
否 |
已获取CNAS认证 |
是 |
上一页
下一页
上一页
下一页