产品描述
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仪器设备信息 |
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仪器名称 |
中文：二维X射线检测仪 |
仪器型号 |
Quadra7 |
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英文： 2D X-Ray Inspection Systems |
产地及生产厂家 |
英国/NORDSON DAGE |
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所属单位 |
工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室） |
购置时间 |
2019年 |
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放置地点 |
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号 |
仪器状态 |
正常 |
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设备应用范围/仪器测量范围（公差） |
应用范围： SMT产品检测，PoP BGA检测；半导体检测，包括TSV、Flipchip、Copper Pillar 检测。 主要参数：最低识别下限160kV, 20W, 100nm (0.100 microns)。 |
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是否通过第三方机构定期校准 |
是 |
已获取CNAS认证 |
是 |
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