产品描述
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仪器设备信息 |
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仪器名称 |
中文：少子寿命分析仪 |
仪器型号 |
FAaST210 |
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英文：SPV |
产地及生产厂家 |
美国/SEMILAB |
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所属单位 |
南京国盛电子有限公司 |
购置时间 |
2013年 |
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放置地点 |
南京江宁正方中路166号 |
仪器状态 |
正常 |
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设备应用范围/仪器测量范围（公差） |
硅片内少子寿命测试 DL：1~2000um。 |
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是否通过第三方机构定期校准 |
否 |
已获取CNAS认证 |
否 |
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