产品描述
|
仪器设备信息 |
|||
|
仪器名称 |
中文：X射线检测仪 |
仪器型号 |
GE Sensing Microme|x CT |
|
英文：暂无 |
产地及生产厂家 |
德国/Phoneix |
|
|
所属单位 |
华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
购置时间 |
2009年12月 |
|
放置地点 |
北京朝阳区北土城西路三号 |
仪器状态 |
正常 |
|
设备应用范围/仪器测量范围（公差） |
最小探测距离1um；最大几何放大倍数2130倍；最大电压180KV；最大控制电流0.88mA at 45KV；观看角度0-70 degree 台面旋转角度 0- 360 degree；倾斜角度+/- 70 degree tilt/ 0- 360 degree rotate。 |
||
|
是否通过第三方机构定期校准 |
否 |
已获取CNAS认证 |
否 |