产品描述
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仪器设备信息 |
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仪器名称 |
中文：光学膜厚仪 |
仪器型号 |
F50 |
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英文：The Thin-Film Measurement Systems |
产地及生产厂家 |
岱美有限公司 |
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所属单位 |
上海新安纳电子科技有限公司 |
购置时间 |
2011年9月20日 |
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放置地点 |
上海市金山区金山工业区天工路285弄20号 |
仪器状态 |
正常 |
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设备应用范围/仪器测量范围（公差） |
F50高级光谱反射系统可以快速轻松地绘制薄膜厚度和指数。 电动r-theta平台自动移动到选定的测量点，并在几秒钟内提供厚度测量。选择数十种预定义的极化矩形或线性地图图案中的一种，或创建自己的图案，不限制测量点的数量。 整个桌面系统只需几分钟即可完成。 |
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是否通过第三方机构定期校准 |
是 |
已获取CNAS认证 |
否 |