产品描述
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仪器设备信息 |
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仪器名称 |
中文：扫描电镜-电子背散射衍射 |
仪器型号 |
Hitach SU3500 |
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英文：SEM-EDX-EBSD |
产地及生产厂家 |
进口 |
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所属单位 |
宁波江丰电子材料股份有限公司 |
购置时间 |
2018年 |
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放置地点 |
浙江省宁波余姚市经济开发区安山路198号 |
仪器状态 |
正常 |
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设备应用范围/仪器测量范围（公差） |
SEM可测试样品微光形貌，放大倍数10000倍到30000倍。DEX可以对样品表面进行成分定量分析（平坦、抛光和均匀），EBSD主要特点是在保留扫描电子显微镜的常规特点的同时进行空间分辨率亚微米级的衍射。通过EBSD技术，检测材料的晶粒取向、取向差、晶界属性分析、借助层切技术的3D组织重构、晶粒内部取向梯度等,以及与菊池花样相关的拓展应用,如缺陷密度评价、物相分析等。 |
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是否通过第三方机构定期校准 |
是 |
已获取CNAS认证 |
否 |
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