产品描述
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仪器设备信息 |
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仪器名称 |
中文：数字式硅晶体少子寿命测试仪 |
仪器型号 |
LT-100C |
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英文：Digital Minority Carrier Lifetime Tester For Silicon Crystal |
产地及生产厂家 |
广州市昆德科技有限公司 |
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所属单位 |
洛阳中硅高科技有限公司 |
购置时间 |
2017年 |
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放置地点 |
洛阳市洛龙科技工业园牡丹大道西路1号 |
仪器状态 |
正常 |
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设备应用范围/仪器测量范围（公差） |
可测量多晶硅块、单晶硅棒少数载流子寿命。 |
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是否通过第三方机构定期校准 |
是 |
已获取CNAS认证 |
是 |
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