产品描述
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仪器设备信息 |
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仪器名称 |
中文：高速老化试验箱 |
仪器型号 |
R8PC-422R8 |
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英文：暂无 |
产地及生产厂家 |
日本/Harayama |
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所属单位 |
华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
购置时间 |
2010年10月 |
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放置地点 |
北京朝阳区北土城西路三号 |
仪器状态 |
正常 |
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设备应用范围/仪器测量范围（公差） |
温度测试范围：105.0——133.3℃/100%RH；110.0——140.0℃/85%RH；118.0——150.0℃/65%RH； 湿度范围：65%-100%RH； 压力范围：0.019——0.208MPa； 测试时间：500H； 配有20个偏压端子。 |
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是否通过第三方机构定期校准 |
是 |
已获取CNAS认证 |
否 |