产品描述
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仪器设备信息 |
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仪器名称 |
中文：原子力显微镜 |
仪器型号 |
XE-150 |
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英文：Atomic Force Microscope |
产地及生产厂家 |
韩国/Park |
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所属单位 |
上海新安纳电子科技有限公司 |
购置时间 |
2012年2月9日 |
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放置地点 |
上海市金山区金山工业区天工路285弄20号 |
仪器状态 |
正常 |
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设备应用范围/仪器测量范围（公差） |
原子力显微镜，是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。 |
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是否通过第三方机构定期校准 |
是 |
已获取CNAS认证 |
否 |